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UTX960C X荧光光谱仪
型号:
订货号:
厂家:
价格:面议
区域:北京
      一、应用领域 
    UTX960C光谱仪采用最先进的硅漂移探测器(SDD),是优特公司为超薄样品的镀层测量、元素分析、ROHS分析而设计的一款高端仪器,实现最小分析直径在10um的微区测定,大幅度提高传统x射线荧光光谱仪的微小区域分析的灵敏度。适用于极微小样品。 
    1、镀层检测 
    在线测量超薄的太阳能电池中ClGS,ClS,CdTe层厚度; 
    测量玻璃面板、金属和塑料支架、太阳能胶片上薄膜的厚度; 
    测试尺寸较小接插件、电气连接器电镀,PCB电镀,塑料、ABS、镁铝合金电镀。特别适合PCB板上较小、较薄的Au、Ag、Pd等贵重金属电镀。 

    2、元素分析,微区扫描 
    电子和半导体工业中的镀层测量和分析 
    环境科学(大气颗粒分析) 
    生命科学(细胞分析) 
    冶金、地质、石油化工等行业 

    3、RoHS检测 
    欧盟RoHS指令规定所限制的Cr、Hg、Pb、Cd、Br的总含量检测,塑料中的Cl元素含量检测。镁铝合金电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP等。 

    4、镀液分析 
    电镀液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的浓度检测,以及杂质元素Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn、Fe、Co、Mn、Sb等分析。 
    5、合金材料分析 
    不锈钢中的Fe、Cr、Ni、Mo等成分 
    合金钢中的Fe、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Nb、Mo、Sn、Sb、W、Pb等成分 
    铜合金中的Cu、Zn、Fe、Cr、Ni、Cu、Zn、、Sn、Sb、W、Pb等成分 
    锌合金中的Zn、Cu、Fe、Cr、Mn、Ni、Cu、Zn、、Sn、Sb、W、Pb等成分 
    焊锡中的Sn、Fe、V、Cr、Ni、Cu、Zn、Nb、Sb、W、Pb等成分 
    6、贵重金属鉴别 
    黄金饰品的纯度检测以及杂质Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr、Rh、Pd等分析 
    铂金饰品的纯度检测以及杂质Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr、Rh、Pd、Au等分析 
    钯金饰品的纯度检测以及杂质Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr等分析 
    银饰品的纯度检测以及杂质Fe、Ni、Cu、Zn、Cd、Sn等分析 
    7、食品及安全检测 
    日常食品中微量元素Fe、Zn、Cu、Mn、Cr、Mo等分析 
    各种补品中有效成分分析,如补Ca口服液的Ca含量,补Zn口服液的Zn含量等 
    茶叶辨别:根据不同产地茶叶中微量元素不同,辨别茶叶种类和真伪 
    8、环境检测 
    汽油、柴油、煤油等中的含Pb、As、Cd等元素的检测 
    水质分析,分析河水、湖水、污水、地下水、饮用水中的Fe、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Nb、Mo、Sn、Sb、W、Pb、Hg、Cd等元素 

    二、产品特点 
    1、从C到U的快速元素分析、金属镀层厚度检测 
    2、检测灵敏度0.1ppm到99.99%;镀层1nm到35000nm 
    3、15-20 倍彩色CCD系统用于样品图像观察 
    4、有多种形状和多种规格的准直器可供选用 
    5、多种滤光机制、多种规格滤光片针对不同样品 
    6、高分辨率探测器,提高测量灵敏度 
    7、OPTIC BEAM光缆微束聚焦 
    8、超大样品仓配合精密调节自动程控多点扫描、微区扫描样品台,可以测量特大到特小的各种尺寸样品 
    9、通过集成的可编程XYZ样品台及高清晰视频摄像头,测量点的准确定位简单而精准。硅漂移探测器(SDD)的能量解析度可达125ev,分析准确度和灵敏度非常高 
    10、FP基本算法软件 
    11、灵活的应用分析软件 
    12、仪器安装简单、快速 

    三、技术指标 
    产品执行标准 DIN50987,ISO3497,ASTMB568 
    测试原理 EDXRF能量色散X荧光光谱法 
    测量样品 固体、液体、粉末 
    功能 欧盟RoHS指令规定所限制的Cr、Hg、Pb、Cd、Br的含量检测 
    单镀层和多镀层测厚与元素分析 
    最多可分析6层(不包括基层) 
    镀液成份分析 
    高压发生器 
    输入电压 24VDC±10% 
    输出电压 0-50kV 
    输出电流 0-2.0mA 
    输出精度 0.01% 
    X射线管 
    X射线管靶材 W、Rh、Mo、Ag、Cr靶材可选 
    X射线管窗口 Be窗 
    电气参数 50W, 4-50kV, 0-1000uA 
    冷却方式 油冷却 
    X射线照射方向 从上往下 
    使用寿命 15000-20000h 
    探测器 
    探测器类型 硅漂移探测器(SDD) 
    元素分析范围 C6-U92 
    分辨率 FWHM达125eV 
    探测窗口 铍窗,窗口面积:5-25mm2 
    冷却方式 0.5-5mm 
    RoHS测量指标 
    分析范围 0.1ppm—99.99% 
    镀层测厚与元素分析指标 
    测厚范围 1nm—35000nm 
    测量时间 在线实时测量,3-5s,最快时仅需1s 
    谱处理系统 
    处理器类型 全数字化32-bit DSP 
    谱通道数 256,512,1024,2048可供选择 
    计数率 大于100000cps 
    能量范围 125eV-40960eV 
    死时间 <3% 
    光路系统和样品观测 
    准直器系统 Φ20um微束光线 
    对焦系统 镭射激光对焦 
    滤光片 多种滤光机制(Cu、Mo、Al) 
    样品观察系统 300万像素高清CCD摄像头,20倍光学变焦 
    样品室 
    样品室内部空间 (宽×高×深):455×60×430 mm 
    样品台尺寸 (宽×深):250×275mm 
    样品台承载重量 ≤5kg 
    试验样品最大尺寸 宽×高×深:440×50×410 mm 
    样品台控制方式 三维程控电动样品台 
    工作台移动技术数据 X=200±5、Y=200±5、Z=80±5 mm 
    工作台移动精度 0.005 mm 
    计算机和软件 
    控制计算机 联想品牌机,2G内存,500G硬盘驱动 
    显示器 联想19寸LCD显示器 
    操作系统 Windows XP 
    报告结果 Word、Excel格式 
    软件 镀层测厚软件、元素分析软件 
    软件类型 FP基本参数法软件 
    软件语言 简体中文、繁体中文、英文、其它 
    谱显示 自动峰定性,KLM标记,谱重迭比较 
    谱处理 总强度,净强度,背景强度;全面积,净面积,多元素拟合,高斯拟合 
    资料分析 基本参数,基本谱图,无标样测试,峰位修正,底材修正。 
    重量和尺寸 
    设备主体尺寸 宽×高×深:W 503×H 635×D 790mm 
    主体重量 约80kg 
    使用环境 
    工作环境 温度15-25℃,湿度40-70%RH 
    电源系统 单相220V±10%,工作电压在允许范围内 
    其它 1. 不要靠近产生强磁场,电场,高频等装置;2. 减少振动3. 粉尘少,湿度低,无腐蚀性气体;4. 日光不能直射;5. 作为地震的对策,要考虑装置的固定。 
      一、应用领域 
    UTX960C光谱仪采用最先进的硅漂移探测器(SDD),是优特公司为超薄样品的镀层测量、元素分析、ROHS分析而设计的一款高端仪器,实现最小分析直径在10um的微区测定,大幅度提高传统x射线荧光光谱仪的微小区域分析的灵敏度。适用于极微小样品。 
    1、镀层检测 
    在线测量超薄的太阳能电池中ClGS,ClS,CdTe层厚度; 
    测量玻璃面板、金属和塑料支架、太阳能胶片上薄膜的厚度; 
    测试尺寸较小接插件、电气连接器电镀,PCB电镀,塑料、ABS、镁铝合金电镀。特别适合PCB板上较小、较薄的Au、Ag、Pd等贵重金属电镀。 

    2、元素分析,微区扫描 
    电子和半导体工业中的镀层测量和分析 
    环境科学(大气颗粒分析) 
    生命科学(细胞分析) 
    冶金、地质、石油化工等行业 

    3、RoHS检测 
    欧盟RoHS指令规定所限制的Cr、Hg、Pb、Cd、Br的总含量检测,塑料中的Cl元素含量检测。镁铝合金电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP等。 

    4、镀液分析 
    电镀液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的浓度检测,以及杂质元素Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn、Fe、Co、Mn、Sb等分析。 
    5、合金材料分析 
    不锈钢中的Fe、Cr、Ni、Mo等成分 
    合金钢中的Fe、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Nb、Mo、Sn、Sb、W、Pb等成分 
    铜合金中的Cu、Zn、Fe、Cr、Ni、Cu、Zn、、Sn、Sb、W、Pb等成分 
    锌合金中的Zn、Cu、Fe、Cr、Mn、Ni、Cu、Zn、、Sn、Sb、W、Pb等成分 
    焊锡中的Sn、Fe、V、Cr、Ni、Cu、Zn、Nb、Sb、W、Pb等成分 
    6、贵重金属鉴别 
    黄金饰品的纯度检测以及杂质Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr、Rh、Pd等分析 
    铂金饰品的纯度检测以及杂质Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr、Rh、Pd、Au等分析 
    钯金饰品的纯度检测以及杂质Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr等分析 
    银饰品的纯度检测以及杂质Fe、Ni、Cu、Zn、Cd、Sn等分析 
    7、食品及安全检测 
    日常食品中微量元素Fe、Zn、Cu、Mn、Cr、Mo等分析 
    各种补品中有效成分分析,如补Ca口服液的Ca含量,补Zn口服液的Zn含量等 
    茶叶辨别:根据不同产地茶叶中微量元素不同,辨别茶叶种类和真伪 
    8、环境检测 
    汽油、柴油、煤油等中的含Pb、As、Cd等元素的检测 
    水质分析,分析河水、湖水、污水、地下水、饮用水中的Fe、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Nb、Mo、Sn、Sb、W、Pb、Hg、Cd等元素 

    二、产品特点 
    1、从C到U的快速元素分析、金属镀层厚度检测 
    2、检测灵敏度0.1ppm到99.99%;镀层1nm到35000nm 
    3、15-20 倍彩色CCD系统用于样品图像观察 
    4、有多种形状和多种规格的准直器可供选用 
    5、多种滤光机制、多种规格滤光片针对不同样品 
    6、高分辨率探测器,提高测量灵敏度 
    7、OPTIC BEAM光缆微束聚焦 
    8、超大样品仓配合精密调节自动程控多点扫描、微区扫描样品台,可以测量特大到特小的各种尺寸样品 
    9、通过集成的可编程XYZ样品台及高清晰视频摄像头,测量点的准确定位简单而精准。硅漂移探测器(SDD)的能量解析度可达125ev,分析准确度和灵敏度非常高 
    10、FP基本算法软件 
    11、灵活的应用分析软件 
    12、仪器安装简单、快速 

    三、技术指标 
    产品执行标准 DIN50987,ISO3497,ASTMB568 
    测试原理 EDXRF能量色散X荧光光谱法 
    测量样品 固体、液体、粉末 
    功能 欧盟RoHS指令规定所限制的Cr、Hg、Pb、Cd、Br的含量检测 
    单镀层和多镀层测厚与元素分析 
    最多可分析6层(不包括基层) 
    镀液成份分析 
    高压发生器 
    输入电压 24VDC±10% 
    输出电压 0-50kV 
    输出电流 0-2.0mA 
    输出精度 0.01% 
    X射线管 
    X射线管靶材 W、Rh、Mo、Ag、Cr靶材可选 
    X射线管窗口 Be窗 
    电气参数 50W, 4-50kV, 0-1000uA 
    冷却方式 油冷却 
    X射线照射方向 从上往下 
    使用寿命 15000-20000h 
    探测器 
    探测器类型 硅漂移探测器(SDD) 
    元素分析范围 C6-U92 
    分辨率 FWHM达125eV 
    探测窗口 铍窗,窗口面积:5-25mm2 
    冷却方式 0.5-5mm 
    RoHS测量指标 
    分析范围 0.1ppm—99.99% 
    镀层测厚与元素分析指标 
    测厚范围 1nm—35000nm 
    测量时间 在线实时测量,3-5s,最快时仅需1s 
    谱处理系统 
    处理器类型 全数字化32-bit DSP 
    谱通道数 256,512,1024,2048可供选择 
    计数率 大于100000cps 
    能量范围 125eV-40960eV 
    死时间 <3% 
    光路系统和样品观测 
    准直器系统 &pHi;20um微束光线 
    对焦系统 镭射激光对焦 
    滤光片 多种滤光机制(Cu、Mo、Al) 
    样品观察系统 300万像素高清CCD摄像头,20倍光学变焦 
    样品室 
    样品室内部空间 (宽×高×深):455×60×430 mm 
    样品台尺寸 (宽×深):250×275mm 
    样品台承载重量 ≤5kg 
    试验样品最大尺寸 宽×高×深:440×50×410 mm 
    样品台控制方式 三维程控电动样品台 
    工作台移动技术数据 X=200±5、Y=200±5、Z=80±5 mm 
    工作台移动精度 0.005 mm 
    计算机和软件 
    控制计算机 联想品牌机,2G内存,500G硬盘驱动 
    显示器 联想19寸LCD显示器 
    操作系统 Windows XP 
    报告结果 Word、Excel格式 
    软件 镀层测厚软件、元素分析软件 
    软件类型 FP基本参数法软件 
    软件语言 简体中文、繁体中文、英文、其它 
    谱显示 自动峰定性,KLM标记,谱重迭比较 
    谱处理 总强度,净强度,背景强度;全面积,净面积,多元素拟合,高斯拟合 
    资料分析 基本参数,基本谱图,无标样测试,峰位修正,底材修正。 
    重量和尺寸 
    设备主体尺寸 宽×高×深:W 503×H 635×D 790mm 
    主体重量 约80kg 
    使用环境 
    工作环境 温度15-25℃,湿度40-70%RH 
    电源系统 单相220V±10%,工作电压在允许范围内 
    其它 1. 不要靠近产生强磁场,电场,高频等装置;2. 减少振动3. 粉尘少,湿度低,无腐蚀性气体;4. 日光不能直射;5. 作为地震的对策,要考虑装置的固定。 
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