METTLER梅特勒分析天平XP204

METTLER梅特勒分析天平XP204
型号：XP204
显示屏：彩色触摸屏
最大秤量：220g
可读性： 0.1mg
校准方式：内部校准

最大称量范围	220 g
可读性	0.1 mg
Minimum weigh (typical acc. USP)	120 mg
Minimum weigh (typical,>	8 mg
去皮范围	0...220 g
重复性	0.05 - 0.07 mg
线性	0.2 mg
偏心负载	0.25 mg
内部砝码校准	proFACT, fully automatic time- and temperature-controlled adjustment
外部砝码校准	custom weights
灵敏度精度	3.0 x 10^-6 •Rnt
灵敏度稳定性	1 x 10^-6/a •Rnt
Sensitivity offset	3x10-6·Rnt
灵敏度（温度漂移）	1 x 10^-6/°C •Rnt
稳定时间	1.5 s
接口	RS-232C
尺寸	263x487x322 mm (WxDxH)
防风罩可用高度	235 mm
秤盘尺寸	78 x 73 mm
物料号 (s)	11106030
商业名称	11106030

XP超越系列至尊型分析天平

梅特勒-托利多的超越系列至尊型分析天平是分析天平领域中的又一里程碑。革命性的创新设计带来了前所未有的称量性能并为操作者、样品称量和数据管理的安全性设立了新的标准。

红外感应器(SmartSense)，实现无需用手接触的称量操作：开关门、打印、去皮等

彩色智能触摸屏(SmartScreen)，实现安全，便捷的天平操作

网格秤盘(SmartGrid)，获得快速、准确称量结果

水平控制系统(LevelCControl), 在天平偏移水平位置时提供警告提示功能

易巧称量组件(ErgoClip)，满足使用不同容器的称量需求

用户管理工具(UserManagement)，可以独立设置操作者的使用权限

MinWeigh最小称量值功能，提供符合规范的称量帮助(需要梅特勒-托利多客户服务工程师现场设置激活)

天平校验功能(BalanceCheck)，自动提示用户使用外置砝码校验天平,确保称量结果始终准确

ProFACT专业级全自动校准技术，温度漂移和时间设置触发的内置砝码自动校准和全自动线性校准,获得精确称量结果

完全可拆卸、清洗的防风罩设计，实现快速清洁

高度可调节的内置防风罩，确保精确称量结果

可移动、分离的显示控制终端，方便天平使用

标配RS232通讯接口和一个可用于蓝牙、以太网、USB、LocalCan、RS232和PS/2通讯接口选件插槽，方便连接打印机、电脑等外围设备

显示屏塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀

6种内置应用称量程序:简单称量、计件称量、百分比称量、密度测定、统计功能、公事称量

最大容量	XP105 DR 分析天平	XP205 分析天平	XP205DR 分析天平	XP204 分析天平	XP504 分析天平	XP504DR 分析天平
最大容量	31.0 g; 120.0 g	220.0 g	81.0 g; 220.0 g	220.0 g	520.0 g	101.0 g; 520.0 g
可读性	0.01 mg; 0.1 mg	0.01 mg	0.01 mg; 0.1 mg	0.1 mg	0.1 mg	0.1 mg; 1.0 mg
最小称量值 (USP)，典型值	14.0 mg	21.0 mg	14.0 mg	80.0 mg	80.0 mg	80.0 mg
重复性	0.015 mg; 0.06 mg	0.03 mg	0.015 mg; 0.06 mg	0.07 mg	0.12 mg	0.1 mg; 0.6 mg
线性误差（典型值）±	0.15 mg	0.1 mg	0.15 mg	0.2 mg	0.4 mg	0.5 mg
尺寸宽度	263.0 mm	263.0 mm	263.0 mm	263.0 mm	263.0 mm	263.0 mm
尺寸深	487.0 mm	487.0 mm	487.0 mm	487.0 mm	487.0 mm	487.0 mm
尺寸高度	322.0 mm	322.0 mm	322.0 mm	322.0 mm	322.0 mm	322.0 mm