SGW X-4B显微熔点仪技术参数

熔点测量范围：室温至320℃ 
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）
                       ±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时） 
温度显示最小值： 0.1℃

熔点观察方式 单目显微镜

光学放大倍数 40× 

SGW X-4B显微熔点仪