A550 硅油涂布检测仪
A550硅油涂布检测仪,应用在各种薄膜、淋膜、离型膜等硅油涂布量的测定，各种薄膜生产过程中Si/Al元素等比量的测定，电子产品保护膜硅油残余量的测定，电子产品硫化物的残留量的测定当中
技术特点
- ● 测试采用X射线荧光光谱原理，测试过程无需耗材
- ● 光管垂直照射，硅元素性能得到更强激发
- ● 测试下限好，可准确测量 0.01g/m2 的涂硅量
- ● 采用大面积硅漂移探测器，测试结果极其准确
- ● 快速采用新的模型算法，大大提高了轻元素的测量稳定性
- ● 配置高清液晶显示器，测试过程和测试结果一目了然
- ● 设备集成多个 usb 接口 , 数据和通讯传输满足多种要求
- ● 空气光路内部环境得到显著优化，大气环境一样可以直接测试
- ● 一键测试 / 操作简单智能，测试过程使用时间更短，结果更准确
测试原理
通过软件程序控制，让 X 射线发生路产生适合的 X 射线去激发测试薄膜材料中的 Si 或者其他元素，被 X 射线激发后变为不稳定态，高能层的电子会跃迁到空穴并同时释放特定能量被探测器接收，因每个元素都有自已特定的能量特征线，通过探测器的识别，计算机软件的计算，即可准确识别该元素，并计算出含量。
仪器采用了大面积的晶体硅漂移探测器，分辨率能够达到 125eV, 能分辨 Al( 铝 ) 元素和 Si( 硅 ) 元素。
| 硅涂布检测 | |||||||||||
| 测试次数 | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 |
| Si（g/m2） | 0.9846 | 0.9833 | 0.9878 | 0.9856 | 0.9865 | 0.9847 | 0.9852 | 0.9871 | 0.9839 | 0.9841 | 0.9857 |
技术参数
| 型号 | A550 硅油涂布检测仪 |
| 分析范围 | 1ppm~100% |
| 精度 | RDS ≤ 0.05% Ag ≥ 90% |
| 光管管流 | 0-1000 μA |
| 探测器 | 美国进口 Amptek 探测器 SDD |
| 高压电源 | 0-50 KV |
| 光管电压 | 5-50KV/可选配进口光管 |
| 分辨率 | 129±5eV |
| 测试时间 | 30-100s |
