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CI-110植物冠层数字图像分析仪

 
产品编号: 22580
品牌: 国产
型号: CI-110
单价: 面议
起订: 1 台
供货总量: 1000 台
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
所在地: 北京
有效期至: 长期有效
最后更新: 2022-03-24 15:51
浏览次数: 10
 
公司基本资料信息






详细说明
 CI-110植物冠层数字图像分析仪      CI-110植物冠层数字图像分析仪
技术参数

· 工作环境:0℃~50℃,相对湿度0~100%RH(没有水汽凝结)

· 电源:使用UMPC数据终端电源

· 数据存贮:存贮到UMPC数据终端

· 分析软件:含手动调节阈值、自动调节阈值(OTSU)、光斑透过率三种冠层图像分析方法

· 软件附加功能:GPS数据显示

· 鱼眼镜头:视角可调150°、180°,焦距可调

· 彩色图像分辨率:3百万像素

· 彩色图象格式:BMP,JPG,TIFF,EXIF,D,PNG,GIF

· 分区:天顶角划分1~10;方位角划分1~10

· 镜头高:72mm,Ф42mm,操作杆长400mm

· PAR光量子传感器:24个

· 总重量:500g

主机简介  

 广泛适用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、 植物群体对比与发展的研究与教学中农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析。能测算植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光系数,叶面积指数(LAI)和叶片平均倾角(MTA)等。

植物冠层分析仪型号:SPL-2000

原理和方法

 采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律,在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下,采用半理论半经验的公式,通过冠层孔隙率的测定,计算出冠层结构参数。采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法。

功能特点

1.非破坏性地测定冠层结构

2.可以测量冠层内外的光合有效辐射(PAR)

3.手持式万向接头自动水平调整探头,

4.随身携带的笔记本计算机可以帮助你正确选点取样,即时决定图像的取舍

5.由计算机电池提供电源极其轻便、便于观测,尤其适合完成野外繁重的观测任务

6. 图像分析软件可以任意定义图像分析区域(天顶角可分10区,方位角可分10区)。对不同方向的冠层进行区域性分析时,可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠层部分(如缺株、边行问题等)。对不同天顶角起始角和终止角的选择,可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件 

7.通过USB接口直接将测点图像显示在计算机上,可以在野外即时观察图像,选择合理的测点,将图像存贮。

8.半球图象上可以设计任何地点、任何时间的太阳视运动轨迹,以及冠层内任意时刻的受光状况。

技术参数

1.镜头角度:150°

2.分辨率:768×494pix

3.测量范围:天顶角由0°~75°(150°鱼眼镜头)可分割成十个区域,方位角360°亦可分割成十个区域。

4.PAR感应范围:感应光谱400~700nm。   测量范围0~2700μmol/m2•s

5.分析软件:专业ECA-GC02软件。

6.显示和内存:7英寸笔记本,128内存以上。

7.电 池:电脑电池。

8.传输接口:USB

9.工作温度:0~55℃

10.重量:1.5kg

CI-110植物冠层数字图像分析仪      CI-110植物冠层数字图像分析仪
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