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功能 |
UTD30A |
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测量原理 |
磁性/涡流 |
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测量范围 |
标准配置探头（M1/E1)：0～1250μm |
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测量精度 |
±（3%H+1）μm（零点校准）；±（1%H+1）μm（二点校准） |
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统计量 |
平均值（MEAE）、最大值（MAX）、最小值（MIE）、测试次数（EO）、标准偏差（S.DEV) |
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存贮和统计 |
500个测量值 |
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零点校准 |
√ |
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二点校准 |
√ |
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删除功能 |
√ |
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自动关机 |
√ |
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蜂鸣声提示 |
√ |
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错误提示 |
√ |
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标准配置 |
主机、M1(E1)探头、基体、校准片、说明书、包装箱 |
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选配件 |
M400、E400、M1/90、M10、CE02、打印机、通讯软件 |
二、仪器应用
测试铁上或非磁材质上镀层厚度和涂层厚度，例：锌、铜、铬、锡等，薄膜、腹膜，油漆、油墨，还有铜锌铬锡等合金的厚度
三、仪器特点：
1、探头分离，在线分析，携带方便
2、分辨率最高可达0.1um,允许误差达3%,量程达10mm
3、操作简便:随手即用对绝大多数的测试无需校准调整。单手操作，菜单导航显示屏亮度可调一键复位，恢复到出厂设置。
4、精确:可追溯至NIST的校验证明，多种校正调整选项，包括一点和两点校准，已知厚度，均值零点校准;
5、多用途:多种语言可选;背光显示，方便在黑暗的环境下操作输出单位(mil/um/mm)自由切换
