该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作

2. 主要技术指标
（1） UV365 探头：
λ：320~400 nm; λp=365 nm
（2） UV420 探头：
λ：320~500 nm; λp=420 nm
＊辐照度测量范围：
0.1~1.999×10^5 μw/cm2
＊紫外带外区杂光：
UV365: 小于0.02%；
UV420: 小于0.02%
＊余弦特性：符合国家二级光照度计标准
＊准确度： ±5% （相对于国家标准）
＊响应时间：1秒
＊使用环境：温度20±20℃；湿度 ＜85%
＊尺寸和重量：180×80×36mm3; 0.2kg