梅特勒-托利多天平

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METTLER梅特勒电子分析天平XPE105DR
产品编号: 150698
产品: METTLER梅特勒电子分析天平XPE105DR 
型号: Array
单价: 面议
最小起订: 1 台
供货总量: 918 台
货源周期: 现货
发货期限: 自买家付款之日起 1 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2021-05-10 21:09
 
详细说明

静电检测

自动检测任何出现在称量室中可能导致不合格结果的相关静电荷。

轻松的天平管理

创新性 StatusLightTM 可以快速提供天平状态信息,实现即时质量控制。采用 Test Manager 确保合规性。

可轻松升级

XPE 天平通过自动化粉末和液体加样开始您的流程,是一个完美的起点。利用 Quantos 加样模块轻松升级。

技术参数:


大秤量120g/41g
可读性0.1mg;0.01mg
重复性(校验砝码)0.015mg(5g)
最小称量值 (USP),典型值14 mg
校正内部/proFACT高级版
自动最小称量值(USP),典型值10mg
秤盘外形尺寸(宽x深)73mmx78mm
合法交易No
稳定时间1.5s
重复性(典型)7µg
线性误差(典型值)± 0.1mg
尺寸 (高x宽)322mmx263mm
物料号 (s)30087924




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