日本日置 3532-50 LCR测试仪_供应产品

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日本日置 3532-50 LCR测试仪

详细说明

日本日置 3532-50 LCR测试仪

搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪

· 测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整

· 可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来

输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件

基本参数

测量参数	│Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
测量方法	测量源：恒流10μ～100mA(42Hz～1MHz)，50μ～20mA (1MHz～5MHz)，或恒压10mV～5V(42Hz～1MHz),50mV～1V(1MHz～5MHz) 检测：电压，AC
测量频率	42Hz～5MHz
测量量程	│Z│，R，X：10.00mΩ～200.00MΩ(视条件而定) θ:-180.00～＋180.00o，C:0.3200pF～370.00mF L:16.000nH～750.00kH, D:0.00001～9.99999 Q:0.01～999.99， Y,G,B：5.0000nS～99.999S
基本精度	│Z│: ± 0.08% rdg.，θ: ± 0.05°
测量时间│Z│的典型值	快速：5ms～慢速2：140ms
显示	最大显示值99999，LCD背光功能
比较器功能	设定：上、下限值，百分比或绝对值输出：3档（高，中，低），开路集电极，绝缘
外部打印	9442 （与9443/9446/9593-01同时使用）
电源供应	100～240V AC 50/60Hz
体积及重量	352宽 x124高 x 323厚mm，6.5kg
附件	电源线（1），保险丝（1）

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