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SC-E型种子大米外观品质检测仪
产品编号: 47284
产品: SC-E型种子大米外观品质检测仪 
型号: Array
单价: 面议
最小起订: 1 台
供货总量: 1 台
货源周期: 现货
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2022-04-02 09:48
 
详细说明

技术参数:  
   
1.快速形态分析:40秒内自动精准分析测出每粒种子的各面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径(长度测量误差≤±0.1mm,长宽比测量误差≤±0.05,重现性误差≤±0.02mm),自动获得每粒种子的外观形状参数,以及千粒重、大米整精米粒数、整精米率(30g样本的测量误差≤±1.0%,重现性误差≤±0.25%)、垩白度、垩白粒率(30g样本的测量误差≤±1.0,重现性误差≤±0.5)、大米透明度(30g样本的测量误差≤±5.0%,重现性误差≤±0.5%)、碎米率、不完善粒(黄粒米、未成熟粒、杂质)。可自动分割粘连种子、自动剔除微小杂质和错误目标,可选择区域统计。稻种等的考种计数正确率,经极快速地可视化验证后,可达100%正确。  
2.具有对被分析目标颜色、形状进行自动学习,并实现自动分类的特性。可任意组合的批操作向导,实现一键自动完成计数与各项分析,并实现鼠标增减统计、区域选择统计、辅助裁剪修正、种子粘连分割、输入重量后自动换算出千粒重 等;可裁剪或擦除掉污染目标区,删除任意区域内的误选种子。可合并误分割,以及对自动识别后的黄米粒和其它目标做类别转换修正。  
3.测量功能:  
尺寸标定:自带标定功能,实现半自动的尺寸标定,XY向可分别标定修正;  
长度测量:具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精确测量;  
可以单独进行目标的长度测量  
4.数据存储:图像可保存(可保留原图/结果图);自动形成总报表,统计分析结果能输出至Excel表;  
5.仪器规格与配置:  
专配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800真彩双光源扫描仪(电脑另配);  
    
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